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激光測量設備

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MPROBE 40 MSP微小區(qū)域薄膜厚度測量儀
微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時結(jié)合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量。

型號：MPROBE 40 MSP 廠商性質(zhì)：代理商
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寬帶飛秒光纖激光器-多色雙光子顯微專用
寬帶飛秒光纖激光器-多色雙光子顯微專用SCH提供了非常寬的光譜帶寬，在近紅外光譜中擴展到900-1200nm光譜。這與大多數(shù)綠色和紅移熒光標記的雙光子激發(fā)光譜重疊，包括eGFP、mRFP和dred。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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寬帶飛秒光纖激光器
昊量光電新推出寬帶飛秒光纖激光器，其基于高功率1050nm飛秒光纖激光器結(jié)合LMA-PCF光子晶體光纖非線性轉(zhuǎn)換模組，飛秒光纖激光器將窄帶高峰功率脈沖轉(zhuǎn)換為波長為950 ~ 1200 nm的大功率寬帶輸出。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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DISCO超連續(xù)譜激光器
DISCO超連續(xù)譜激光器是指當一束高強度的短脈沖通過非線性材料時，經(jīng)過一系列非線性效應與線性色散的共同作用，使得出射光中產(chǎn)生許多新的頻率成分，從而使頻譜得到極大展寬的一種現(xiàn)象。超連續(xù)譜激光器（SupercontinuumSources）又稱超連續(xù)激光器、超連續(xù)光源、白光激光器。

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Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環(huán)
Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環(huán)，Moku:PID控制器的PID控制器具有四個*可配置的PID控制器，具有亞微秒的延遲。這使得它們能夠用于要求低和高反饋帶寬的應用，如激光溫度和電流穩(wěn)定。通過使積分和微分控制器具有獨立的增益設置，PID控制器也可以用作超前滯后補償器。

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Moku:Pro頻率響應分析儀
Moku:Pro頻率響應分析儀是測量被測系統(tǒng)頻率特性的儀器。早期頻率特性的測量是用信號源、電壓表、頻率計、相位計、示波器等單機組成，儀器操作復雜，易受干擾，測量精度低。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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可見近紅外LED光通量顏色測量儀
可見近紅外LED光通量顏色測量儀，LED 的光度規(guī)格通常必須滿足非常高的容差要求，即使對于通用和汽車照明等非專業(yè)應用也是如此。因為 LED 的制造公差可能高于應用中允許的公差，這通常就會是一個問題。LED 制造商基于強度和顏色的分級提供的容差限制僅適用于操作條件與分級測試相似的情況。

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X1-3紫外和藍光危害測量儀
紫外和藍光危害測量儀X1-3，”藍光危害”是指一種特定的光生物危害，與光化學誘導的眼睛內(nèi)視網(wǎng)膜損傷的可能性有關（視網(wǎng)膜炎）。例如，它不關心晝夜節(jié)律的可能中斷。只有通過眼角膜并在視網(wǎng)膜上成像的輻射才與藍光危害評估相關。設備有適當?shù)臉藴屎捅匾臏y量技術(shù)對光危害的評定可能顯得尤為重要。

型號：X1-3 廠商性質(zhì)：代理商
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皮米級絕對距離測量干涉儀
皮米級絕對距離測量干涉儀通過將可調(diào)激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉(zhuǎn)換為頻率變化的測量。當F-P腔長在變化時，其諧振峰的頻率也在發(fā)生變化，通過測量初始腔長，初始頻率和頻率變化，就可實現(xiàn)測量腔長。

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中遠紅外波前傳感器/波前分析儀
SID4-DWIR中遠紅外波前傳感器/波前分析儀是測量光學元件和光束波前質(zhì)量的一種很好的替代傳統(tǒng)干涉儀的方法。SID4-DWIR波前傳感器是市面上一款同時覆蓋3 - 5微米;m中紅外和8 - 14微米遠紅外的雙波段紅外高分辨率波前傳感器。它非常適合表征紅外光學器件，黑體光源，3.39微米或10.6微米激光和光學系統(tǒng)。

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多波長動態(tài)干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長動態(tài)干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態(tài)干涉儀的抗震性能。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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SID4-UHR超高分辨率波前傳感器/波前分析儀
大口徑超高分辨率波前傳感器/波前分析儀搭載高性能相機，也可提供的激光表征精度。高達512 x 512（可選高至666 x 666）相位取樣分辨率使SID4-UHR成為研究和工業(yè)領域中用于光學和激光計量的高性能工具。

型號：SID4-UHR 廠商性質(zhì)：代理商
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